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产品缺陷率

什么是产品缺陷率

产品缺陷率是指缺陷产品占最终接收产品量的比率,它由各种不确定性因素造成。

产品缺陷率控制图——u图

当子样容量多于“一个单位产品”,和样本容量不同时,必须采用u图来分析过程特性。

1.收集数据

各子样样本的容量不必都相同,尽管使它的容量保持在其平均值的正负25%以内可以简化控制限的计算。

记录并描绘每个子样内的单位产品缺陷数u:u=c/n

式中,c为发现的缺陷数;n为子样容量(“一个单位产品”的数量)。

每个子样的样本容量n是按检验报告单位来表示的,有时报告的单位是一个产品单元,如一台发动机。然而,多数情况下检验报告单位不是一个产品单位。例如,在注明为每100个单位产品中不合格的报告中,报告单位应为100个单位产品,而n代表检验了多少个一百。

2.计算控制限

计算每单位产品过程平均缺陷率\bar{u}=(c_1+c_2+\ldots +c_k)/(n_1+n_2+\ldots +n_k)

式中,c_1,c_2,\ldots 为子样的缺陷数:

n_1,n_2,\ldots 为k个子样样本容量。

计算控制限UCLuLCLu

UCL_u=\bar{u}+3\sqrt{\bar{u}}/\sqrt{n}

LCL_u=\bar{u}-3\sqrt{\bar{u}}/\sqrt{n}

如果某些子样的样本容量与平均样本容量的差超过正负25%,按下式重新计算其准确的控制限

UCL_u=\bar{u}+3\sqrt{\bar{u}}/\sqrt{\bar{n}}

LCL_u=\bar{u}-3\sqrt{\bar{u}}/\sqrt{\bar{n}}

式中,\bar{n}为平均样本容量。

3.案例分析

某工厂以包装箱包装产品,连续10天检验包装箱内产品缺陷,获得的数据结果为

子样(ni)1089108107101010

缺陷数(ci)1020181623121882022

缺陷率(ui)1.02.521.62.91.22.60.822.2

绘u控制图。

解:(1)计算\bar{u}

\bar{u}=(c_1+c_2+\ldots +c_k)/(n_1+n_2+\ldots +n_k)

=(10+20+18+16+23+12+18+8+20+22)/(10+8+9+10+8+10+7+10+10+10)

=167/92

=1.82

(2)计算上下控制限

UCL_u=\bar{u}+3\sqrt{\bar{u}}/\sqrt{\bar{n}}=1.82+3\sqrt{1.82}/\sqrt{9.2}=3.15

LCL_u=\bar{u}-3\sqrt{\bar{u}}/\sqrt{\bar{n}}=1.82+3\sqrt{1.82}/\sqrt{9.2}=0.49

(3)绘制U图(见图1)。Image:u控制图案例.jpg

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